產(chǎn)品[
KMETD-1020 拍擊密度儀/粉體密度測(cè)試儀/顆粒空隙度分析儀/振實(shí)密度測(cè)定儀/振實(shí)密度計(jì) 美國(guó)
]資料
產(chǎn)品名稱:
KMETD-1020 拍擊密度儀/粉體密度測(cè)試儀/顆粒空隙度分析儀/振實(shí)密度測(cè)定儀/振實(shí)密度計(jì) 美國(guó)
產(chǎn)品型號(hào):
KMETD-1020
產(chǎn)品展商:
美國(guó)
產(chǎn)品文檔:
*相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
敲擊密測(cè)試儀的Electrolab 微控制器遵守USP 和 ASTM 的要求。提供一個(gè)簡(jiǎn)單而標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試敲擊密的方法，用于測(cè)粉末，顆，小球，片劑和其它體積的物質(zhì)。
KMETD-1020 拍擊密度儀/粉體密度測(cè)試儀/顆粒空隙度分析儀/振實(shí)密度測(cè)定儀/振實(shí)密度計(jì) 美國(guó)
的詳細(xì)介紹
拍擊密度儀/粉體密度測(cè)試儀/顆粒空隙度分析儀/振實(shí)密度測(cè)定儀/振實(shí)密度計(jì) 美國(guó)
型號(hào)：KMETD-1020
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貨號(hào)：ZH3997
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
敲擊密測(cè)試儀的Electrolab 微控制器遵守USP 和 ASTM 的要求。提供一個(gè)簡(jiǎn)單而標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試敲擊密的方法，用于測(cè)粉末，顆，小球，片劑和其它體積的物質(zhì)。
KMETD-1020是雙位式敲擊式密測(cè)試儀，同時(shí)支持USP1 和USP2 兩種測(cè)試方法，也可以單*使用一種方法。如果在筒固定器上使用備選適配器，可依照ASTM 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試。運(yùn)用吸－鎖機(jī)的兩個(gè)同的筒固定器可以裝100ml 和250ml 筒。
儀器性能：
USP 和ASTM 的要求
支持USP1，USP2 的測(cè)試方法
雙筒固定裝置，運(yùn)用吸－鎖原，可以放置100ml和250ml筒旋轉(zhuǎn)和敲擊同時(shí)進(jìn)，確保均勻和實(shí)24×2 數(shù)字式LCD 顯示器使用者“友好”操作菜單，當(dāng)前狀態(tài)指示器
計(jì)算測(cè)試結(jié)果比如 敲擊密，壓縮系數(shù)和Hausner打印機(jī)接口，可打印測(cè)試結(jié)果
應(yīng)用領(lǐng)域：
敲擊密測(cè)試儀的Electrolab 微控制器遵守USP 和 ASTM 的要求。提供一個(gè)簡(jiǎn)單而標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試敲擊密的方法，用于測(cè)粉末，顆，小球，片劑和其它體積的物質(zhì)。
KMETD-1020是雙位式敲擊式密測(cè)試儀，同時(shí)支持USP1 和USP2 兩種測(cè)試方法，也可以單*使用一種方法．
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